Контакты >

Метод Laplce-DLTS с выбором параметра регуляризации по L-кривой

Метод DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy) является одним из основных методов, широко используемых для определения параметров дефектов, приводящих к возникновению глубоких уровней в запрещенной зоне полупроводникового материала. предложено использовать подход L-кривой при выборе параметра регуляризации в методе Laplace-DLTS для исключения неконтролируемых ошибок и повышения достоверности получаемых результатов. Возможности метода продемонстрированы численным анализом модельного релаксационного сигнала, содержащего 3 экспоненты с бликими значениями показателей и малую шумовую составляющую. Показано, что предложенный вариант Laplace-DLTS с использованием L-кривой для выбора параметра регуляризации или LL-DLTS обладает большей надежностью по сравнению с методом Laplace-DLTS с выбором параметра регуляризации по невязке.

Метод Laplce-DLTS с выбором параметра регуляризации по L-кривой.pdf

Возврат к списку
Вакансии:
Инженер по СВЧ-технике. Инженер-электроник 1, 2 категории Другие вакансии